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引領射頻微波測試行業發展 安捷倫參加首屆國際無線會議及展覽
發布者: 發布時間:2013-05-08 閱讀:1057

2013 年 4 月 26日,北京――日前,首屆國際無線會議(IWS)及展覽(IEEE MTT-S IWS)在京舉行。作為全球最大的測試測量公司,安捷倫科技(NYSE:A)是本次會議的白金贊助商。以“引領射頻微波測試”為會議主題,安捷倫電子測量事業部首席科學家、國際微波元器件測試技術的領軍人Joel Dunsmore 先生、以及來自全球的資深測試專家參加了本次活動,他們與中國業內專家一起,共同探討國防電子、微波和通信領域的眾多前沿課題。


安捷倫副總裁元件測試集團總經理Greg Peters與IWS主席及MTT-S前主席合影留念

與此同時,為與用戶更為深入的分享安捷倫的產品及領先技術,安捷倫還通過展示長廊、有源微波器件進階測試技術講座、國防電子和微波測試測量研討會、工業論壇等多樣的方式,為中國客戶和業內專家介紹了安捷倫全球領先的射頻微波測試方案:

主題演講

安捷倫公司副總裁元件測試集團總經理 Greg Peters 先生在閉幕典禮上作了題為“微波技術:光明的未來”的主題演講?;毓肆宋⒉ㄉ淦盜煊虻姆⒄?,并展望了未來推動微波技術進步的新的市場需求。

安捷倫展示長廊

安捷倫與Cascade、DecenTest、Electro Rent、Matrix、Maury等國內外合作伙伴深入合作,共同打造了具有超強人氣的“展示長廊”展覽區域,內容包括太赫茲(750GHz網絡儀)、復雜雷達和電子戰解決方案、噪聲系數測試、晶圓片上(on-wafer)器件測試、北斗/GPS/GNSS 衛星導航等超過12個主題鮮明的展臺。


安捷倫IWS展臺

有源微波器件進階測試技術講座

為幫助國內專業人士深入了解微波器件特別是放大器、變頻器等有源器件的測試技術,安捷倫元件測試集團首席科學家、國際微波元器件測試領域的領軍人Joel Dunsmore先生結合現場實物測試演示,通過連續4個小時的技術講座,深入剖析了有源微波器件測試技術。


安捷倫專家Joel Dunsmore技術講座

國防電子和微波測試測量研討會與工業論壇

鑒于中國工業、航空航天與國防電子技術的迅速發展,以及射頻微波技術在工業、國防電子領域的重要應用。安捷倫在本次國際無線會議期間舉辦了“國防電子和微波測試測量研討會”,并積極參與主辦方提供的“工業論壇”平臺。安捷倫與中國用戶一起分享當前工業界與國防電子的最新發展趨勢,及安捷倫領先的測試測量應用方案,涉及專題內容包括天線相控陣相參測試、雷達和T/R組件測試、北斗/GPS/GNSS 衛星導航測試、瞬態信號的捕獲概率等共計超過20個全球領先的測試測量方案。


安捷倫于大會同期舉辦的國防電子和微波測試測量研討會


安捷倫工業論壇

作為國際微波行業最負盛名、最具權威性和影響力的會議,本次由IEEE微波理論與技術協會主辦的國際無線會議(IWS)及展覽是首次來到中國。其參照IEEE微波理論與技術協會(MTT-S)著名的國際微波年會(IMS)會議模式,集技術研討會和展覽于一體,為廣大用戶及業內專家搭建了一個展示、溝通、交流的平臺。

 

 
 

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